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Ultratek PREAMP2前置放大器
PREAMP2前置放大器,Ultratek PREAMP2前置放大器详细介绍：PREAMP2前置放大器,Ultratek PREAMP2前置放大器是一种宽带、低噪声、多通道前置放大器，用于超声波检查和声发射测试。 在超声波检测中，特别是对于 TOFD 方法、串联探头和长同轴电缆的 FAST 换能器，超声波信号通常很弱。 因此，额外的增益和信噪比增强对于最佳信号采集是必要的。 在声发射测试系统中，还需要放大低信号幅度事件和驱动连接到远程传感器的长电缆的能力。美
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2025-08-06 |
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BII-7100高温水听器
BII-7100系列高温水听器：高达120°C或198°C。BII的高温水听器专为高温材料（气体、液体或固体）开发，最高温度可达120°C（248°F）和198°C（390°F）。水听器的差分输出和高电容可以定制，以驱动长电缆并减少EMI噪声的拾取。溶剂不宜与水听器一起使用，如盐酸、异丙醇、乳酸乙酯、丙酮、二甲苯、异己烷、矿物油精等。水听器不应与易燃物、爆炸物和腐蚀性物一起使用。BII-7100高温水听器，BII-7100水听器典型应用 实验室声波处
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2025-08-06 |
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WEK-7900超声空气换能器
WEK-7900超声空气换能器,WEK-7900超声换能器具有低至中 Qmin 空气，适用于空气耦合 NDT（无损检测）、导航、测距、测量和控制以及类空气流体（气体）和材料（如木材、塑料、橡胶、泡沫）的表征、复合材料。可提供可承受 50m 水深的防水传感器。频率范围从30kHz-1Mhz.WEK-7900超声空气换能器,WEK-7900超声换能器应用图解：衰减（20°C (68°F) 空气中的声音吸收，相对湿度：10%，1 atm）频率 (kHz)30405070100120150200250300400
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2025-08-06 |
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Pro-Slit狭缝相机,Pro-Slit体模
Pro-Slit狭缝相机,Pro-Slit体模用于根据IEC 60336：2005精确测量焦斑尺寸。它的主要优点是重复性，准确性和测量任何焦点大小的可能性。由于外壳的衰减很小，该工具还可以与牙科数字探测器一起使用 - 探测器接收到足够的辐射来触发。Pro-Slit狭缝相机,Pro-Slit体模技术数据（可根据客户要求修改）：尺寸：40 x 40 x 11.5 mm0.01毫米宽，10毫米长的切口，8°展开隔膜由钨制成嵌入PMMA中，附加不锈钢屏蔽Pro-Slit狭缝相机,Pro-Slit体
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2025-08-06 |
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DeFelsko PosiTest空气泄漏测试仪
DeFelsko PosiTest空气泄漏测试仪,PosiTest AIR渗漏测试仪快速方便地检测建筑围护结构和刚性空气屏障系统的空气和水的泄漏。是测试贯穿物（紧固件、砖石拉杆等）和刚性空气屏障系统中接头和接缝连续性的理想选择。DeFelsko PosiTest空气泄漏测试仪,PosiTest AIR渗漏测试仪适用于...单层和两层膜液体应用膜喷涂聚氨酯泡沫 (SPF)棋牌室金属衬垫外墙保温和饰面系统（EIFS）EPDM屋面系统防水和更多符合 ASTM E1186 标准便携、轻巧的测
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2025-08-06 |
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List-Magnetik Ferromaster磁导率仪
Ferromaster磁导率计,List-Magnetik Ferromaster磁导率仪是测定相对磁导率μr的测量装置，可以轻松确定磁导率在 1.001 和 1.999 之间的弱磁性材料和工件的相对磁导率 μr，通过用探头尖端接触工件并从显示屏读取结果来测量磁导率。磁导率或磁导率表明材料的磁化强度。不锈钢和其他低磁性材料的测试Ferromaster磁导率计,List-Magnetik Ferromaster磁导率仪典型应用包括：材料的无损检测，例如不锈钢的质量控制，电子/离子束设备的材
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2025-08-06 |
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FerroPro compact磁导率仪
List-Magnetik的磁导率计FerroPro compact，可以测定材料和结构部件的相对磁导率μr，范围在1,000到5,000之间，磁导率或磁导率表明材料可以被磁化的强度。应用领域包括不锈钢的质量控制、结构部件的无损材料测试、电子/离子物理领域设备和核共振装置的材料选择，或高应力部件材料变化的检测。该设备按照精确校准的参考标准进行校准，可追溯到 Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB（布伦瑞克）。重新校准很容易。为此，每个
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2025-08-06 |
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日本JIMA RT CT-01B CT分辨率测试卡
由日本检测仪器制造商协会 （JIMA） 精心打造，为 CT 和 X 射线系统提供最先进的校准。它们可提高各种分辨率下的成像精度，对于高质量的扫描和检查至关重要。日本JIMA RT CT-01B CT分辨率测试卡采用最先进的半导体工艺技术，采用金 (Au) 吸收材料开发了一种新的 CT 分辨率图，适用于从 3 微米到 7 微米的 5 种不同尺寸的线和空间。这是检查 Microfocus X 射线 CT 扫描系统性能的非常有用且不可或缺的工具，也可用于校准、设置、维
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2025-08-06 |
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